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电子器件冲击箱|电子器件高低温冲击试验箱

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    电子器件冲击箱|电子器件高低温冲击试验箱技术参数:

    1.内箱尺寸最小W350mm*H400mm*D350mm(本公司还有众多标准尺寸可选择,也可定制非标尺寸

    2.外箱尺寸:以实际尺寸为标准。

    3.高温槽预热温度范围:+60℃~200℃;

    4.升温时间: +60℃~200℃≤30min

    5.低温槽预冷温度范围: -75-10℃;

    6.降温时间: +20℃~-75℃≤60min;﹙注:降温时间为低温槽单独运转时的性能﹚

    7.试验方式: 气动风门切换

    8.温度冲击范围: ﹙+60℃~+150℃﹚/-65℃~-10℃﹚

    9.温度偏差: ±2.0

    10.温度波动度: ±0.5

    11温度恢复时间: ≤5分钟

    12.试样限制:本实验设备禁止易爆、易燃、易挥发性物质试样的试验或储存;腐蚀性物质试样的试验或储存;

    电子器件冲击箱|电子器件高低温冲击试验箱破坏能力超强,功率比普通高低温试验箱高出许多倍。所以技术难度及成本也相对高许多。该试验设备主要用于对电工、电子产品,以及其元器件等各类产品按照国家军用标准要求或用户自定要求,在高温与低温瞬间变化条件下,对原产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟试验,试验后,通过检测,来判断相关产品的性能是否仍然能够符合预定要求,以便供各类产品的设计、改进、鉴定及出厂检验用。如有需要请联系生产厂家东莞市爱佩试验设备有限公司,价格及质量上有绝对优势,欢迎前来咨询,谢谢




     

     

     

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